深圳市嘉士達(dá)精密儀器有限公司
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詳細(xì)摘要： SE500橢偏儀薄膜測(cè)量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm產(chǎn)品簡(jiǎn)介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測(cè)量薄膜材料的厚度、...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2022-05-22 在線留言
詳細(xì)摘要： Suragus在線監(jiān)測(cè)面阻測(cè)量?jī)x(渦流原理)產(chǎn)品簡(jiǎn)介Suragus面阻測(cè)試儀來自德國(guó)，其通過渦流的原理測(cè)量材料面阻值，該技術(shù)是一種非接觸式面阻測(cè)試技術(shù)且測(cè)試準(zhǔn)確...
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詳細(xì)摘要： SE300橢偏儀400nm到1000nm測(cè)量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡(jiǎn)介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測(cè)量薄膜材料的厚度、N...
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詳細(xì)摘要： SE200BA-M300橢偏儀測(cè)量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設(shè)備產(chǎn)品簡(jiǎn)介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進(jìn)行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測(cè)量薄膜材...
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詳細(xì)摘要： Suragus非接觸式手持式面阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介Suragus面阻測(cè)試儀來自德國(guó)，其通過渦流的原理測(cè)量材料面阻值，該技術(shù)是一種非接觸式面阻測(cè)試技術(shù)且測(cè)試準(zhǔn)確穩(wěn)定，...
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詳細(xì)摘要： EddyCusTF便攜式1010系列接觸式手持面阻測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介EddyCusTF便攜式1010是一種方便的便攜式測(cè)量設(shè)備，用于在生產(chǎn)或現(xiàn)場(chǎng)對(duì)大型玻璃和箔片進(jìn)行...
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詳細(xì)摘要： 單點(diǎn)測(cè)量的非接觸式薄層電阻和圖層厚度測(cè)量設(shè)備EddyCusTFlab2020系列產(chǎn)品簡(jiǎn)介EddyCusTFlab2020系列允許在非接觸模式下對(duì)導(dǎo)電薄膜進(jìn)行手動(dòng)...
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詳細(xì)摘要： 非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)試儀EddyCusTFlab2020SR產(chǎn)品簡(jiǎn)介EddyCusTFlab2020SR是一種非接觸式單點(diǎn)薄層電阻測(cè)量系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： 非接觸式單點(diǎn)金屬測(cè)厚儀EddyCusTFlab2020MT產(chǎn)品簡(jiǎn)介EddyCusTFlab2020MT允許對(duì)透明和非透明層進(jìn)行非接觸式金屬厚度測(cè)量
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詳細(xì)摘要： 非接觸式電氣各向異性和薄層電阻測(cè)試儀TFlab2020A產(chǎn)品資料EddyCusTFlab2020A（各向異性）用于測(cè)量特定方向的電各向異性和薄層電阻
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